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德龙机械轧辊公司设备使用内部标准制度规范汇编(23页).rar

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文本描述
德龙机械轧辊公司
设备使用内部标准制度规范汇编
起草:审核: 批准:
千分尺校对和使用规范
DLB/Z74029.01—2008
1 现场测量要求
1.1 利用千分尺测量被测工件时,应在无磁场和远离振动源的环境中进行,
1.2 被测工件应无毛刺、粉尘、锈蚀。

1.3 千分尺和被测工件应在测量现场充分恒温。

2 现场校对
2.1 检查千分尺有无合格证,是否在有效期内。

2.2 把千分尺的测量面和校对杆的测量面擦拭干净。

2.3 将校对杆放在千分尺两测量面中间,使千分尺的测量中心线与校对杆的中心线重合。

2.4转动微分筒,使千分尺两测砧的测量面将要与校对杆测量面接触,然后转动棘轮3~5下,确保千分尺测量面与校对杆测量面充分接触。

2.5 检查零位是否准确。

2.6 发现问题送计量科进行校准。

3 使用方法
3.1将千分尺测量中心线与工件被测长度方向相互平行。

3.2 转动微分筒使千分尺测量面即将与被测工件接触,再转动棘轮3~5下,以确保千分尺与被测工件测量面充分接触。

3.3 记下千分尺读数。

3.4 旋转测微螺杆,使两测砧与被测工件脱离,拿走千分尺。

3.5 单次测量完成,将千分尺放到固定的量具平台上。

3.6全部测量完成将千分尺用汽油擦拭干净,测量面涂防锈油放回量具盒,归还到量具库或放回量具箱内。

4 注意事项
4.1 校对和测量时,应持千分尺和校对棒的隔热部位。

4.2不能测量运动中的工件。

4.3 不允许将千分尺当卡规使用。

邢台德龙机械轧辊有限公司内控标准
内径千分尺校对和使用规范

DLB/Z74029.02—2008
2008年月 日发布 2008年月日实施
起草:审核: 批准:
内径千分尺校对和使用规范
DLB/Z74029.02—2008
1 现场测量要求
1.1 利用内径千分尺测量被测工件时,应在无磁场和远离振动源的环境中进行,
1.2 被测工件应无毛刺、粉尘、锈蚀。

1.3 内径千分尺和被测工件应在测量现场充分恒温。

2 现场校对
2.1 检查内径千分尺有无合格证,是否在有效期内。

2.2 使用前用校对块校对零位。

2.3 发现问题送计量科进行校准。

3 使用方法
3.1 根据所测工件内径大小,选取适当测量范围的接长杆。

3.2当被测尺寸较大时,要选用多节接长杆, 接长杆的数目越少越好,以减少累积误差。具体接长时,以尺寸最大的接长杆与测微头连接,其余按长度依次连接,尺寸最小的接在最后,这样可减小因接头处两端面平行度误差的积累而产生的测量误差。

3.3内径千分尺没有控制测力的机构,故在测量时,要凭手感控制测力,应以两测头与被测表面刚好接触为准。

3.4 测量孔径时,要使固定测头沿径向支承或压靠在被测表面上,使活动测头在孔径的径向截面内摆动找最大尺寸,另外还要在孔的轴向截面内摆动找最小尺寸;测量两平行平面之间的距离时,摆动活动测头要在被测表面的垂直和水平两个方向上都找最小尺寸。

3.5单次测量完成,将内径千分尺放到固定的量具平台上。

3.6全部测量完成将内径千分尺用汽油擦拭干净,测量面涂防锈油放回量具盒,归还到量具库或放回量具箱内。

4 注意事项
接长杆在连接时,连接头不得有脏物。

邢台德龙机械轧辊有限公司内控标准
内测千分尺校对和使用规范

DLB/Z74029.03—2008
2008年月 日发布 2008年月日实施
起草:审核: 批准:
内测千分尺校对和使用规范
DLB/Z74029.03—2008
1 现场测量要求
1.1 利用内测千分尺测量被测工件时,应在无磁场和远离振动源的环境中进行,
1.2 被测工件应无毛刺、粉尘、锈蚀。

1.3 内测千分尺和被测工件应在测量现场充分恒温。

2 现场校对
2.1 检查有无合格证,是否在有效期内。

2.2 把内测千分尺的测量面和标准环规的测量面擦拭干净。

2.3 把内测千分尺两测量面放在标准环规内侧的最大部位上,即将接触后转动棘轮3~5下,以确保内测千分尺测量面与标准环规内侧充分接触。

2.4 检查零位是否准确。

2.5 发现问题送计量科进行校准。

3 使用方法
3.1 将内测千分尺的测量面与被测工件的测量面即将接触。

3.2 在工件轴线方向上取最小值,在垂直于轴线的平面内取最大值,位置找正后转动棘轮3~5下,以确保内测千分尺测量面与被测工件的测量面充分接触。

3.3 单次测量完成,将内测千分尺放到固定的量具平台上。

3.4全部测量完成,将内测千分尺用汽油擦拭干净,测量面涂防锈油放回量具盒,归还到量具库或放回量具箱内。

4 注意事项
4.1 校对时不应用手直接去拿环规、应采取隔热措施进行校对。

4.2 不得把量爪当固定卡规使用,以免磨损量爪。

邢台德龙机械轧辊有限公司内控标准
游标卡尺校对和使用规范

DLB/Z74030.01—2008
2008年月 日发布 2008年月日实施
起草:审核: 批准:
游标卡尺校对和使用规范
DLB/Z74030.01—2008
1 现场测量要求
1.1 利用游标卡尺测量被测工件时,应在无磁场和远离振动源的环境中进行,