犐犆犛１９．１００ 犖７８ ! " # $ % & ' ' ( ) * 犌犅／犜３８２４０—２０１９ !"#$%&'()*+$& ,-./01 犖狅狀犱犲狊狋狉狌犮狋犻狏犲狋犲狊狋犻狀犵犻狀狊狋狉狌犿犲狀狋狊—犛狋犪狀犱犪狉犱狆狉犪犮狋犻犮犲犳狅狉犿犪狀狌犳犪犮狋狌狉犻狀犵 犮犺犪狉犪犮狋犲狉犻狕犪狋犻狅狀狅犳犱犻犵犻狋犪犾犱犲狋犲犮狋狅狉犪狉狉犪狔狊 ２０１９１０１８23 ２０２００５０１45 ' ( + , - . / 0 1 2 !''()*3/0456 2 3 目次 前言………………………………………………………………………………………………………… Ⅲ １范围……………………………………………………………………………………………………… １ ２规范性引用文件………………………………………………………………………………………… １ ３术语和定义……………………………………………………………………………………………… １ ４意义和用途……………………………………………………………………………………………… ３ ５仪器与器件……………………………………………………………………………………………… ４ ６校正对比和标准操作…………………………………………………………………………………… ６ ７方法……………………………………………………………………………………………………… ７ ８结果计算或分析………………………………………………………………………………………… １０ ９制造商测试结果的显示………………………………………………………………………………… １９ １０数字探测器阵列的分类……………………………………………………………………………… ２１ １１精度与偏差…………………………………………………………………………………………… ２１ １２关键词………………………………………………………………………………………………… ２１ 附录Ａ （规范性附录）输入与输出数据模板…………………………………………………………… ２２ 参考文献…………………………………………………………………………………………………… ２５ Ⅰ 犌犅／犜３８２４０—２０１９ 前言 本标准按照ＧＢ／Ｔ１．１—２００９给出的规则起草。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国试验机标准化技术委员会（ＳＡＣ／ＴＣ１２２）归口。 本标准起草单位：中国工程物理研究院应用电子学研究所、上海奕瑞光电子科技有限公司、山东省 特种设备研究院济宁分院。 本标准主要起草人：陈浩、王远、陈云斌、胡栋材、邱承彬、方志强、邱敏、金利波、黄凌端、申德峰。 Ⅲ 犌犅／犜３８２４０—２０１９ 无损检测仪器射线数字探测器 阵列制造特征 １范围 本标准规定了射线数字探测器的仪器与器件、校正对比和标准操作、检测方法、结果计算及分析等 内容。 本标准适用于数字面阵列探测器。 ２规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 ＡＳＴＭ Ｅ１７４２射线照相检验规程（Ｓｔａｎｄａｒｄｐｒａｃｔｉｃｅｆｏｒｒａｄｉｏｇｒａｐｈｉｃｅｘａｍｉｎａｔｉｏｎ） ＡＳＴＭ Ｅ１８１５用于工业辐射照相底片系统分类标准测试方法（Ｓｔａｎｄａｒｄｔｅｓｔｍｅｔｈｏｄｆｏｒｃｌａｓｓｉｆｉ ｃａｔｉｏｎｏｆｆｉｌｍｓｙｓｔｅｍｓｆｏｒｉｎｄｕｓｔｒｉａｌｒａｄｉｏｇｒａｐｈｙ） ＡＳＴＭ Ｅ２００２放射学中测定总图像不清晰度的标准规程（Ｓｔａｎｄａｒｄｐｒａｃｔｉｃｅｆｏｒｄｅｔｅｒｍｉｎｉｎｇ ｔｏｔａｌｉｍａｇｅｕｎｓｈａｒｐｎｅｓｓａｎｄｂａｓｉｃｓｐａｔｉａｌｒｅｓｏｌｕｔｉｏｎｉｎｒａｄｉｏｇｒａｐｈｙａｎｄｒａｄｉｏｓｃｏｐｙ） ＡＳＴＭ Ｅ２４４６计算辐射照相系统的长期稳定性（Ｓｔａｎｄａｒｄｐｒａｃｔｉｃｅｆｏｒｍａｎｕｆａｃｔｕｒｉｎｇｃｈａｒａｃｔｅｒ ｉｚａｔｉｏｎｏｆｃｏｍｐｕｔｅｄｒａｄｉｏｇｒａｐｈｙｓｙｓｔｅｍｓ） ３术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。 ３．１ 数字探测器阵列系统犱犻犵犻狋犪犾犱犲狋犲犮狋犲狉犪狉狉犪狔（犇犇犃）狊狔狊狋犲犿 将电离辐射或穿透辐射转化为模拟信号的离散阵列的电子装置。然后将这些数字化的模拟信号传 输到计算机，并按照与计算机驱动方法的输入区域相对应的辐射能谱数字图像形式显示。 注：电离辐射或穿透辐射转化为电子信号的首要步骤是通过使用闪烁材料电离辐射或穿透辐射转化为可见光。这 些装置的速度范围，从若干秒生成一幅图像，直到一秒生成若干幅图像，最快达到或超过实时射线透视的速度 （通常为３０帧／ｓ）。 ３．２ 信噪比狊犻犵狀犪犾狋狅狀狅犻狊犲狉犪狋犻狅；犛犖犚 信号强度的平均值与噪声强度的标准偏差之比，取决于辐射剂量和数字探测器阵列系统的性能。 ３．３ 对比度噪声比犮狅狀狋狉犪狊狋狋狅狀狅犻狊犲狉犪狋犻狅；犆犖犚 两个图像区域平均信号电平差与信号电平的标准偏差之比。 注：在这里的应用中，上述的两个图像区域分别为阶梯楔槽和基材。基材强度的标准偏差是噪声的衡量标准。 ＣＮＲ 取决于辐射剂量和数字探测器阵列系统的性能。 １ 犌犅／犜３８２４０—２０１９ ３．４ 像元空间分辨率犫犪狊犻犮狊狆犪狋犻犪犾狉犲狊狅犾狌狋犻狅狀；犛犚犫 数字探测器阵列可以分辨到的最小几何细节。 注：像元空间分辨率与有效像素尺寸相类似。 ３．５ 探测器信噪比归一化犱犲狋犲犮狋狅狉狊犻犵狀犪犾狋狅狀狅犻狊犲狉犪狋犻狅狀狅狉犿犪犾犻狕犲犱；犱犛犖犚狀 对信噪比进行标准化以用于计算像元空间分辨率（ＳＲｂ）。 注：像元空间分辨率（ＳＲｂ）是直接由探测器测量所得。在测量过程中除了射束路径中的光束滤波片外不使用其他 任何