ICS29.130.20 K30 中华人民共和国国家标准 GB/T18858.7—2014/IEC/PAS62026-72009: 低压开关设备和控制设备 控制器-设备接口 (CDI) 第7部分:CompoNet Low-voltageswitchgearandcontrolgear—Controller-device interfacesCDIs)—Part7:CompoNet ( (/ ) : , IEC PAS62026-72009IDT 2014-06-24发布 2015-01-22实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 发布  / GB T18858.7—2014/IEC/PAS62026-72009: 目 次 前言 ………………………………………………………………………………………………………… Ⅰ 引言 ………………………………………………………………………………………………………… Ⅲ 1 范围 ………………………………………………………………………………………………………1 规范性引用文件 …………………………………………………………………………………………1 术语、定义、符号和缩略语 ………………………………………………………………………………2 分类 ………………………………………………………………………………………………………6 特性 ………………………………………………………………………………………………………9 产品信息 ………………………………………………………………………………………………103 常规服务、安装和运输条件 …………………………………………………………………………… 103 结构和性能要求 ………………………………………………………………………………………104 测试 ……………………………………………………………………………………………………138 2 3 4 5 6 7 8 9 附录A(规范性附录)CompoNet公共服务………………………………………………………… 附录B(规范性附录)CompoNet出错代码………………………………………………………… 149 150 附录C(规范性附录)连接路径属性定义 …………………………………………………………… 151 附录D(规范性附录)数据类型规范和编码 ………………………………………………………… 152 附录E(规范性附录)通信对象库 …………………………………………………………………… 155 附录F(规范性附录)值的范围 ……………………………………………………………………… 156 附录G(规范性附录)CN默认时间域………………………………………………………………… 157 参考文献…………………………………………………………………………………………………… 161  / GB T18858.7—2014/IEC/PAS62026-72009: 前 言 /《低压开关设备和控制设备 控制器-设备接口》分为以下部分 : GBT18858 ———第1部分:总则; ———第2部分:执行器传感器接口 (AS-i); ———第3 DeviceNet; ———第7部分:CompoNet。 本部分是 / 部分: GBT18858的第7部分。 本部分按照 GBT1.1/—2009给出的规则起草 。 本部分与GBT18858.1/ 《低压开关设备和控制设备控制器设备接口第1部分:总则》一起 - 使用。 本部分等同采用/ :《低压开关设备和控制设备控制器设备接口第7 部 IECPAS62026-72009 - 分:CompoNet》,本部分在技术内容和编写格式上与 / :《低压开关设备和控制设备 IECPAS62026-72009 控制器-设备接口 与本标准中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下 : ——— / 第7部分:CompoNet》一致。 GBT5095.1—1997 IEC60512-11994:) 外壳防护等级(代码)( 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第1部分:总则(idt ———GB4208—2008 ——— / IP IEC605292001IDT :, ) GBT17626.2—2006 2001IDT, ) ——— / 电磁兼容 试验和测量技术静电放电抗扰度试验(IEC61000-4-2: GBT17626.3—2006 电磁兼容 试验和测量技术 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验 (IEC61000-4-32002IDT:, ) GBT17626.4—2008 ——— / 电磁兼容 IEC61000-4-42004IDT:, ) 电磁兼容 ( GBT17626.5—2008 ——— / 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验(IEC61000-4-5: 2005IDT, ) GBT17626.6—2008 ——— / 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度 (IEC61000-4-62006IDT:, ) ——— /可编程序控制器第2部分:设备要求和测试(IEC61131-22007:, GBT15969.2—2008 IDT) ——— / GBT18858.1—2002 IEC62026-12000IDT:, ) ——— / 低压开关设备和控制设备 CDI1部分:总则 控制器-设备接口()第 ( GBT9387.1—1998 信息技术 开放系统互连基本参考模型第1部分:基本模型(idt / :) ISOIEC7498-11994 ———GB4824—2013 2010IDT, ) 工业、科学和医疗(ISM)射频设备 骚扰特性 限值和测量方法 (CISPR11: 本部分由中国电器工业协会提出 。 本部分由全国低压电器标准化技术委员会(SACTC189/ )归口。 本部分主要起草单位 :上海电器科学研究院 。 Ⅰ  / GB T18858.7—2014/IEC/PAS62026-72009: 本部分参加起草单位 :欧姆龙 (上海 )有限公司 、常熟开关制造有限公司、深圳市泰永科技股份有限 公司 、苏州电器科学研究所有