電子類檢驗標准
修訂紀錄/Revision History：
版本
Rev
修訂頁次
Page
修 訂 要 點
Content
制訂者
Prepared
審 核
Review
核 准
Approval
生效日期
Effective Date
一、目的/Purpose：
明確定義本公司使用電子類材料之檢驗規格,以利執行品質保證之推行.
二、適用範圍/Scope：
適用於公司所有購入之電子類材料.
三、職責/Responsibilities：
品保部IQC.
四、名詞定義/ Definition of terms：
4.1抽樣檢驗計劃：依MIL-STD-105E普通抽樣之Ⅱ級標準執行; 主要缺點=次要缺點*3，客戶有特殊要求時依客戶要求執行.
4.2檢驗條件：將待測物置於正常照度 (亮度 800-1000 LUX 燈光正下方一米處) 在45°-135°方向,兩眼距待測物30公分檢查之,每面檢查約3~7秒.
4.3檢驗依據：承認書,樣品,檢驗規範.
五、作業流程/Flow chart：
略
六、作業內容/Content：
6.1檢驗類別：
1.IC
2.電阻(Resistor)
3.電容(Capacitor)
4.電感(Inductor)
5.發光二極體(LED)
6.三極體(Delay Line)
7.電晶體(Transistor)
8.開關(Switch)
9.電池(Battery)
10.連接器(Connect)
11.線材(Cable)
12.雷射模組(laser module)
序號
項目
檢測內容與判定基準
檢測方式
缺點等級
。。。略