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上舜照明公司质量五大手册&GD&T项目建议书.ppt

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更新时间:2015/4/15(发布于浙江)
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文本描述
上舜照明(中国)有限公司 《质量五大手册&GD&T》 项目建议书 提交日期:2014年3月 3. 1. 4. 5. 项目报价 附:百仕瑞公司介绍 内容大纲:质量五大手册(APQP/PPAP/FMEA/SPC/MSA) 讲师介绍 目录 2. 内容大纲:GD&T(几何尺寸与公差) 产品质量先期策划(APQP)概述 APQP的定义和目的 APQP的基本原则 多功能小组解决问题的原理 现场标准化体系的构成 标准化的意义和方法 APQP和PDCA和SDCA的应用 APQP和其他核心工具的关系 APQP基本工具应用 项目的输入阶段 顾客呼声的处理 目标系统 其他设计输入 项目的初始目标输出 可靠性、可维护性和质量目标、初始特殊特性清单的制定方法 APQP功能展开表的制作方法 产品的设计和开发 DFMEA的关联应用 设计验证计划与报告 产品和过程特殊特性研究 样件的控制要素和样件的控制计划 产品设计过程中的防错法运用 原型样件和工装样件 过程的设计和开发 过程开发与过程流程图 特性矩阵图的应用 PFMEA 定义 场地平面布置图 现场布置原理 控制计划和包装规范 测量系统和PPK计划的制定方法 PFMEA和过程流程图、控制计划关联性 APQP(产品质量先期策划)大纲 控制计划方法论(CP) 控制计划的三个阶段 控制计划的制定依据 控制计划栏目描述及填写要求 变差及其控制方法 控制计划的输入文件 控制计划编制技巧 控制计划的练习 产品和过程的确认- 测量系统分析 初始过程能力研究 生产件批准 质量策划认定 APQP五个阶段的输入和输出 计划和确定项目 产品设计和开发验证 过程设计和开发验证 产品和过程确认 反馈、评定和纠正措施 APQP实用技巧 APQP检查清单的使用 APQP(产品质量先期策划)大纲续 产品PPAP 过程要求 设计记录的尺寸 设计记录的功能性能要求 授权的工程变更文件 初始过程研究的性能指数 有资格的实验室 外观件批准报告(AAR) 生产件样品与批准样品---首件试样部品 散装材料检查清单 检查辅具 顾客设计记录规定的特殊性 和顾客特殊要求的区别 记录的保存要求 记录的保存时间 使用记录的包括或引用 实际案例解析 疑难点解答 产品件批准程序(PPAP)概述 PPAP的定义和目的 PPAP适用性 PPAP过程要求 PPAP的提交 提交要求 概要 顾客通知和提交要求 何时需要提交 何时不要求提交 无论是否提交 提交等级 产品提交状态 完全、临时批准 再次提交PPAP情况 顾客拒收情况 向顾客提交PPAP证据的五个等级 PPAP(生产件批准程序)大纲 APQP的五大阶段及与FMEA关系 FMEA第四版的改版内容 失效模式影响分析(FMEA)的描述 FMEA方法的发展 FMEA必须使用的工具------特性矩阵图、关联图 FMEA类型 DFMEA实施指南 防错技术的应用-产品设计防错 原因分析技术-5Why方法 DFMEA案例分析 公司现有DFMEA的点评 DFMEA检查表 PFMEA实施指南 流程图的编制要求 防错技术的应用-过程设计防错 分小组结合生产实践进行实例分析 PFMEA课堂练习 公司现有PFMEA的点评 顾客对公司PFMEA的管理要求 PFMEA检查表 FMEA在改善项目中的应用 FMEA(失败模式与不良效应分析)大纲 持续改进和统计过程控制概述 过程控制系统的定义 持续改进过程循环的三个阶段 影响产品波动的因素 统计数据及分类 统计基础知识 样本和群体 直方图应用 变差的定义和类型 变差的普通和特殊原因 受控和非受控过程 计量型数据控制图(一) 均值-极差控制图 均值-极差控制图的构成要素 均值-标准差控制图 均值-标准差控制图的构成要素 计量型数据控制图(二) 单值移动极差控制图的构成要素 使用单值移动极差控制图需做的准备工作 过程控制解释 过程能力和产品能力 过程能力程性能解释和计算 测量变差的来源 计数型数据控制图 不合格品率图(P图) 不合格品数图(nP图) 不合格数图(c图) 单位产品不合格数图(u图) 案例分析1(学员亲自做) 均值-极差图 单值移动极差图 过程能力解释 均值-极差图&单值移动极差图的适用范围 均值-极差图&单值移动极差图 运用的常见错误 老师综合点评 SPC(统计过程控制)大纲 测量系统分析基本概念 什么是测量系统 什么是测量误差 为何要做测量系统分析 常见的5种测量变差 认识测量的基本要求 测量系统的精度要求及五性的基本概念 偏移的分析及改善技术 稳定性分析及改善技术 线性分析及改善技术 重复性和再现性分析及改善技术 计数型数据测量系统分析技术:假设检验法 公司的MSA案例 MSA(测量系统分析)大纲 3. 1. 4. 5. 项目报价 附:百仕瑞公司介绍 内容大纲:质量五大手册(APQP/PPAP/FMEA/SPC/MSA) 讲师介绍 目录 2. 内容大纲:GD&T(几何尺寸与公差) 一、符号、标注与基准 ASME标准、ISO标准、GB标准 几何特征符号,附加符号 公差值形状限制 基准符号 公差框格(要素控制框) 被测要素的标注 基准要素的标注 公共区的标注 已废除的标注 螺纹、花键或齿轮轴线的标注 扩孔符号、锪面符号、深度符号、沉头符号、正方符号 连续形体符号 全周符号 全面符号 两者之间 方向要素 相交平面 取向平面 收集平面 GD&T(几何尺寸与公差)大纲 半径和受控半径 局部被测要素、局部基准要素 基准目标 接触要素 自由状态、约束状态 从基准到模拟基准 公共基准 三基面体系(板类、箱体类、盘类) 基准体系中的基准顺序 阵列形体基准 多基准体系 基准坐标系 自定义基准 基准平移 目标基准移动 基准与设计、装配、加工和检测的关系 基准选择对测量误差的影响